切片(Cross Section)分析

文章来源:武汉致一检测技术有限公司    归属栏目:检测常识    添加时间:2023年08月31日

》》》试验介绍

        切片,又名切片技术或金相切片、微切片(英文名:Cross-section,X-section),是一种观察样品截面结构情况最常用的制样分析手段。切片分析技术在PCB/PCBA、零部件等制造行业中是最常见的也是重要的分析方法之一,通常被用于电路板品质好坏的检测、PCBA焊接质量的分析、失效原因的判断、评估及制程的改进,以及作为客观检查、研究,解决方案寻求的根据。

        武汉致一检测是专业检测机构,为广大客户提供切片分析等一系列测试。

》》》试验目的

        切片分析,别称切片测试、金相切片分析。切片分析的目的是电子元器件表面及内部缺陷检查及SMT制程改善&验证。

》》》试验设备

 切片分析.jpg

》》》试验优点

1、检测产品是否出现问题,从而缩短研发周期,降低研发成本。
2、通过检测数据,发现自身产品问题所在,提高产品质量。
3、双向连续一次性扫描,广泛应用于PCB行业、连接器行业等等。

》》》应用范围

       电子行业、金属/塑料/陶瓷制品业、汽车零部件及配件制造业、通信设备、科研等。

》》》试验标准

IPC-TM 650 2.1.1、 IPC-TM 650-2.2.5、IPC A 600、 IPC A 610

 

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